KOSAKA小坂研究所台阶仪薄膜测厚仪微细形状测定机ET200A


KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机

型号：ET200A

是否进口：进口



产品概述：

● ET200A台阶仪适用于二次元表面纳米等级段差台阶测定、粗糙度测定。


● ET200A台阶仪拥有高精度．高分解能，搭配一体花岗岩结构，安定的测量过程及微小的测定力可对应软质样品表面。


● 该型号台阶仪采用直动式检出器，重现性高。

台阶仪ET200A产品参数


最大试片尺寸Φ200mm×高度50mm
重现性1σ ≤ 1nm
测定范围Z:600um X:100mm
分解能Z:0.1nm X:0.1um
测定力10UN~500UN (1mg-50mg)
载物台Φ160mm, 手动360度旋转